牛津荧光镀层膜厚仪的工作原理及应用领域

    对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

牛津荧光镀层膜厚仪的应用领域：

    PCB、FPC、LED支架和封装、连接器、端子、电子元件、五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。

    该设备的测量结果报告中可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表；可使用系统预置的报告模板和客户自定义的报告模板。测量时间约10秒，快速无损得出测量结果，进行非破坏的能量色散X射线荧光（EDXRF）分析。系统安全设置级别，配置有X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等。