详细介绍
台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920
品牌:Oxford Instruments牛津仪器
型号:X-Strata920
奔蓝科技(昆山)有限公司专业代理英国Oxford Instruments牛津仪器X-Strata920 X射线荧光镀层厚度测量仪(X-ray Fluorescence Measurement System)及配件!我司集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务!
X-Strata920膜厚仪:是牛津仪器新开发的新一代镀层膜厚仪,是X-Strata920膜厚仪的升级产品,将逐渐取代膜厚仪CMI900,是X射线荧光(XRF)镀层膜厚仪,无损测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,快速简洁只需要10秒即可得出测量结果,是质量控制、节约成本的*检测工具。
华东牛津仪器920镀层测厚仪利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
华东牛津仪器920镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供:
无损分析:无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
操作简单,只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
X-Strata920镀层测厚仪的优势:
一、高性能、高精度、长期稳定性
快速精确的分析带来生产成本*化
精确测定元素厚度
优化的性能可满足广泛的元素测量
二、坚固耐用的设计
可靠近生产线或在实验室操作
生产人员易于使用
三、简单的校准调试
在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
方法建立只需几分钟
我们提供认证标准片以确保*精确度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
预置了多种校准参数
四、可分析多种样品形状和尺寸
可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件
提供多种硬件供选配,满足各种需要
X-Strata920 – 性价比高,无损可靠
操作简单的质量控制分析仪,满足镀层厚度测量和材料分析。
1、新型号设计
2、快速分析(几秒)1-4层镀层厚度
3、多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型
4、开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等
5、符合ISO3487和ASTM B568检测方法
十多年来,奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和的服务都得到客户zui高的奖励,在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。
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