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美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片
品牌: Calmetrics 产地:美国 型号:Ni-P / XX
美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片(standard),标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证,都是美国原厂制作标准片的专业认证公司。
特色:标准片NIST、A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好、价格实惠。
奔蓝科技昆山分公司是美国Calmetrics国内一级代理商,附有美国Calmetrics公司颁发的代理证书。测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。
以下是美国CalMetrics镀层测厚仪锡校正片部分规格(可根据您的要求特别订制):
锡(Sn/XX) 14种常用规格:
CSSN4 | 4u” | 0.10um |
CSSN10 | 10u” | 0.25um |
CSSN20 | 20u” | 0.50um |
CSSN40 | 40u” | 1.00um |
CSSN80 | 80u” | 2.00um |
CSSN200 | 200u” | 5.00um |
CSSN400 | 400u” | 10.0um |
CSSN600 | 600u” | 15.0um |
CSSN800 | 800u” | 20.0um |
CSSN900 | 900u” | 22.5um |
CSSN1200 | 1600u” | 30.0um |
CSSN1600 | 1600u” | 40.0um |
CSSN2400 | 2400u” | 60.0um |
CSSN3000 | 3000u” | 75.0um |
吴生:151九零一九4078 136零二五五1959
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